SourcingAI
Try for free
Powered by Made-in-China.com
กล้องจุลทรรศน์แบบซูมสเตอรีโอสำหรับการทดสอบความแม่นยำขั้นสูง
US$42,000.00
1 เตรียมตัว
US$40,000.00
2+ เซ็ต

สเปคสินค้า

เลนส์วัตถุ

การเลือกตัวคูณ

ส่วนประกอบของแพลตฟอร์ม

ข้อมูลสินค้า

การปรับแต่ง

มีอยู่

บริการหลังการขาย

การสนับสนุนวิดีโอออนไลน์

ประกันสินค้า

1 ปี

ไม่ใช่ ของรุ่น

KS-5000A

กำลังขยาย

20-9000X

พิมพ์

วิดีโอ

ความคล่องตัว

เดสก์ทอป

เอฟเฟกต์แบบ Stereoscopic

เอฟเฟกต์แบบ Stereoscopic

ชนิดของแหล่งกำเนิดแสง

เลเซอร์

การใช้งาน

การวิจัยทางชีวการแพทย์, การวิเคราะห์วัสดุศาสตร์, การตรวจสอบอุตสาหกรรมและการประกอบ, การศึกษาและการเผยแพร่, การระบุทางนิติวิทยาศาสตร์และตุลาการ, อัญมณีวิทยาและแร่ธาตุวิทยา

หลักการ

ออปติก

หลักการของออปติค

ไมโครสโคปความเปรียบต่างแบบ Differential

การเคลื่อนที่ของแกน z

50 มม

ความแม่นยำของขั้นตอนขั้นต่ำ

0.1μm

อิมเมจเซนเซอร์

25 ล้านพิกเซลความละเอียดสูง

ตัวประมวลผลควบคุมหลัก

อินเทล i7 โปรเซสเซอร์ประสิทธิภาพสูง

หน่วยความจำในการทำงาน

64gb หน่วยความจำขนาดใหญ่

การจัดเก็บข้อมูล

1tb ไดรฟ์สถานะแข็งความเร็วสูง

การ์ดแสดงผลอิสระ

rtx3060 การ์ดกราฟิกระดับมืออาชีพ

อุปกรณ์แสดงผล

27-inch 4k หน้าจอใสกิ๊ง, ความละเอียด 3840×2160

อุณหภูมิในการทำงาน

5℃-40℃

ความชื้นในการทำงาน

5%-80% ความชื้นสัมพัทธ์, ไม่มีการควบแน่น

ระบบจ่ายไฟ

ติดตั้งด้วยแหล่งจ่ายไฟที่มีคุณภาพระดับอุตสาหกรรม

แพคเพจการขนส่ง

กล่องกระดาษแข็ง

ข้อมูลจำเพาะ

ปรับแต่ง

เครื่องหมายการค้า

คาธมาติค

ที่มา

จีน

คุณสมบัติหลัก

ระบบนี้ได้รับการติดตั้งระบบภาพแบบออปติคอลที่ได้รับการปรับปรุงอย่างเต็มที่ และอัลกอริทึมสำหรับการสร้างภาพและการเชื่อมภาพถูกปรับให้เหมาะสมไปพร้อมกัน
ตัวชี้วัดหลัก 4 ประการของระบบภาพได้รับการปรับปรุงอย่างมากเมื่อเทียบกับกล้องจุลทรรศน์แบบดั้งเดิม ได้แก่ ความละเอียดของภาพ, การแสดงสี, ประสิทธิภาพของระบบภาพแบบหลายแหล่งแสง และความคมชัดของพิกเซล
พื้นผิวขนาดเล็ก, โครงสร้างทางโลหะวิทยา และรอยขีดข่วนขนาดเล็กสามารถแสดงผลได้อย่างชัดเจน โดยไม่มีการบิดเบือนหรือการผิดเพี้ยนของสี
ฟังก์ชันการสร้างภาพแบบมีระยะชัดลึก (DOF) ที่เหนือกว่า สามารถจับภาพแบบหลายชั้นภายในช่วงแกน Z ที่ปรับแต่งได้ และบันทึกข้อมูลความสูง จากนั้นจึงสร้างภาพแบบจุด (point cloud) ที่มีสีที่ถูกต้องและคมชัด
รองรับการวัด 3 มิติของความสูงของรอยบัดกรี, ความสูงของจุดบัมพ์ BGA, รูปโปรไฟล์, ปริมาตร, ความหยาบของพื้นผิว และความแตกต่างของความสูง และสร้างแผนที่แบบจุดที่มีสี (pseudo-color height cloud maps)
มีโหมดการส่องสว่างแบบบูรณาการ 7 ประเภท: แสงแบบร่วมแกน, แสงแบบวงแหวน, แสงด้านข้าง, แสงแบบส่องผ่านจากด้านล่าง, การโพลาไรซ์, การรบกวนแบบ DIC และแสงสี่สี
แหล่งกำเนิดแสงที่แตกต่างกันเหมาะสำหรับพื้นผิวที่เรียบ, โลหะที่มีลักษณะกระจายแสง, ผลึกใส, พื้นผิวที่มีความเครียด และรอยขีดข่วนขนาดเล็ก เพื่อให้สามารถตรวจจับข้อบกพร่องที่ซ่อนอยู่ได้อย่างมีประสิทธิภาพ
รองรับการเชื่อมภาพแบบระนาบ 2 มิติ และการเชื่อมภาพแบบ 3 มิติ โดยจำนวนพิกเซลสูงสุดที่สามารถเชื่อมภาพได้มากกว่า 1 หมื่นล้านพิกเซล
หน้าต่างแสดงผลภาพแบบโฟกัสล่วงหน้า (real-time focus preview window) ที่มีอยู่ภายใน แสดงตำแหน่งสัมพัทธ์ระหว่างเลนส์และตัวอย่าง พร้อมกับเส้นเตือนการชน เพื่อให้ง่ายต่อการสังเกตขอบด้านข้าง
มีฟังก์ชันการวัดแบบ 2 มิติและ 3 มิติครบถ้วน การวัดแบบ 3 มิติรวมถึงความแตกต่างของความสูง, รูปโปรไฟล์, ปริมาตร และความหยาบของพื้นผิว (Ra/Sa) ข้อมูลการวัดทั้งหมดสามารถส่งออกไปยังตารางได้

ข้อมูลบริษัท

Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
การรับรองระบบการจัดการการควบคุมคุณภาพที่ได้มาตรฐานสิทธิบัตรที่ได้รับรางวัลความสามารถในการวิจัยและพัฒนา
ผ่านรับรองประเภทของธุรกิจ: ผู้ผลิต / โรงงานและบริษัทผู้ค้า ผ่านรับรองขีดความสามารถด้านวิจัยและพัฒนา: บริการ ODM พร้อมให้บริการ ผ่านรับรองตัวเลือกการปรับแต่ง: การปรับแต่งจากตัวอย่าง, การปรับแต่งจากการออกแบบ, etc. ผ่านรับรองท่าเรือที่ใกล้ที่สุด: Shanghai Portเวลาตอบสนองโดยเฉลี่ย: ≤8.24h

เกี่ยวกับโรงงานของเรา & ข้อมูลเบื้องต้นเกี่ยวกับธุรกิจ

ที่อยู่First Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
พื้นที่โรงงาน3580 ตารางเมตร
จำนวนพนักงาน294
ทุนจดทะเบียน10,000,000 RMB
ระยะเวลาการรอระยะเวลาการรอสูงสุดในฤดูกาล: 1-3 เดือน, ระยะเวลาการรอสูงสุดนอกฤดูกาล, 1-3 เดือน
พันธมิตรในห่วงโซ่อุปทาน51

ศักยภาพการผลิตของเรา & ความเชี่ยวชาญทางเทคนิค

สินค้าหลักกล้องจุลทรรศน์ดิจิตอล, กล้องจุลทรรศน์ออปติคัล, 3D กล้องจุลทรรศน์, กล้องจุลทรรศน์เลเซอร์, โปรไฟล์เลอร์, กล้องจุลทรรศน์คอนฟอคอล, เครื่องวัดการแทรกสอดด้วยแสงสีขาว, เครื่องวัดความเร็วเลเซอร์ดอปเปลอร์, เครื่องทดสอบความหยาบแบบไม่สัมผัส, เครื่องวัดความเร็วดอปเปลอร์
สายการผลิต4
เครื่องจักรการผลิตCNC Centre
เจ้าหน้าที่ตรวจสอบคุณภาพ (QA/QC)8 people
ประเภทการตรวจสอบสำหรับผลิตภัณฑ์สำเร็จรูป100% การตรวจสอบ(การตรวจสอบด้วยสายตา & การตรวจสอบการทำงาน)
วิธีการตรวจสอบผลิตภัณฑ์สำเร็จรูปมีคำแนะนำและปฏิบัติตามอย่างสม่ำเสมอ
วิศวกรวิจัยและพัฒนา (R&D)56 people
การตรวจสอบย้อนกลับของวัตถุดิบใช่

ประสบการณ์ในอุตสาหกรรมของเรา & บันทึกธุรกิจระดับโลก

ตลาดหลักอเมริกาเหนือ, อเมริกาใต้, ยุโรปตะวันออก, เอเชียตะวันออกเฉียงใต้, แอฟริกา, โอเชียเนีย, ตะวันออกกลาง, เอเชียตะวันออก, ยุโรปตะวันตก
ผลิตภัณฑ์ใหม่ที่เปิดตัวในปีที่ผ่านมาใช่

การรับรอง มาตรฐาน & การยอมรับจากอุตสาหกรรม

การรับรองของระบบการจัดการISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, อื่นๆ

ผลิตภัณฑ์ Q&A

Q:สามารถใช้เครื่อง KS series ในการวิเคราะห์สาเหตุความเสียหายได้หรือไม่? สามารถถ่ายภาพจุลทรรศน์ความละเอียดสูงได้หรือไม่?
A:
แน่นอน สามารถทำได้ เลนส์ซูมได้ตั้งแต่ 20 ถึง 9000 เท่า ให้ภาพที่คมชัดทุกรายละเอียด แสดงภาพสามมิติ วัดความหยาบของพื้นผิว เหมาะสำหรับการวิเคราะห์รอยแตก รอยขีดข่วน การกัดกร่อน การสึกหรอ และโครงสร้างจุลภาคของวัสดุ สามารถส่งออกภาพความละเอียดสูงพร้อมรายงานการวัดได้
Q:ความแตกต่างระหว่างระบบ "super depth of field" ของ KS และ KM คืออะไร?
A:
KS เป็นกล้องจุลทรรศน์ที่เน้นระยะชัดลึกสูง โดยมีกำลังขยายที่สูงกว่า (20-9000 เท่า) และให้รายละเอียดในการสังเกตที่ดีกว่า เหมาะสำหรับการวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาค การวิเคราะห์สาเหตุความเสียหาย และงานวิจัยทางวิทยาศาสตร์ KM เป็นระบบที่รวมฟังก์ชันต่างๆ ไว้ในเครื่องเดียว โดยมีระบบ "super depth of field" เป็นหนึ่งในฟังก์ชัน โดยคำนึงถึงความหนาของชั้นฟิล์มแบบ 2 มิติ/3 มิติ เหมาะสำหรับการตรวจสอบคุณภาพในอุตสาหกรรม และให้ความสำคัญกับประสิทธิภาพ
Q:กล้องจุลทรรศน์ระบบ "super depth of field" สามารถวัดความกว้างของเส้นที่เกิดจากการพัฒนาฟิล์ม PI (PI lithography development) ได้หรือไม่?
A:
สวัสดีค่ะ ขอบคุณมากสำหรับความสนใจในผลิตภัณฑ์ของเรา! กล้องจุลทรรศน์ระบบ "super depth of field" มีความสามารถในการวัดที่แม่นยำสูง และสามารถตอบสนองความต้องการในการสังเกตจุลทรรศน์ที่หลากหลายได้ ผลิตภัณฑ์ของเรามีความสามารถในการวัดที่เหมาะสมสำหรับการวัดความกว้างของเส้นที่เกิดจากการพัฒนาฟิล์ม PI ยินดีต้อนรับสู่การติดต่อทีมงานมืออาชีพของเรา เราจะให้ข้อมูลที่ละเอียดและให้การสนับสนุนด้านเทคนิคแก่คุณ
Q:กล้องจุลทรรศน์ดิจิทัล 3 มิติ สามารถใช้สังเกตความเสียหายจากการสึกหรอของเครื่องมือตัดเฉือนได้หรือไม่?
A:
สวัสดีค่ะ กล้องจุลทรรศน์ดิจิทัล 3 มิติของเรามีประสิทธิภาพที่ยอดเยี่ยมในการสังเกตความเสียหายจากการสึกหรอของเครื่องมือตัดเฉือน โดยให้ภาพความละเอียดสูงและภาพที่แสดงรายละเอียดลึก เพื่อช่วยให้คุณสามารถระบุสภาพการสึกหรอของเครื่องมือตัดเฉือนได้อย่างแม่นยำ นอกจากนี้ ผลิตภัณฑ์ของเรายังมีคุณสมบัติในการใช้งานและความเสถียร ซึ่งสามารถตอบสนองความต้องการในการสังเกตที่หลากหลายของคุณ ยินดีต้อนรับสู่การปรึกษาทีมงานบริการมืออาชีพของเราสำหรับข้อมูลเพิ่มเติม
Q:กล้องจุลทรรศน์ดิจิทัล 3 มิติ สามารถนำไปใช้ในสาขาใดได้บ้าง?
A:
กล้องจุลทรรศน์ดิจิทัล 3 มิติ มีการใช้งานที่หลากหลายในหลายสาขา ในสาขาวัสดุศาสตร์ ใช้ในการวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคและคุณสมบัติของวัสดุ นิยมใช้ในอุตสาหกรรมต่างๆ เช่น การผลิตอัจฉริยะ อุตสาหกรรมการบินและอวกาศ อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ 3C เซมิคอนดักเตอร์ ยานยนต์ พลังงานใหม่ วัสดุใหม่ ยาและเวชภัณฑ์ เป็นต้น คุณต้องการทราบข้อมูลเกี่ยวกับการใช้งานในสาขาใดเป็นพิเศษหรือไม่?

ส่งแบบสอบถาม

*ถึง:Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
*เนื้อหา:
0/4000

ซัพพลายเออร์จะส่งคำตอบไปที่ อีเมลที่คุณลงทะเบียนไว้

คุณอาจสนใจสิ่งเหล่านี้ด้วย