ระบบกล้องจุลทรรศน์ที่มีความแม่นยำสำหรับการปรับปรุงการวัดความสูงของขั้นตอน

รูปร่าง 3 มิติ, ความยาว/มุม/รัศมี/ระยะห่างจากจุดศูนย์กลาง, ความลึก/ความสูง, รูปร่าง, ความขรุขระ (Ra/Rz/Sa/Sz), ความเรียบ, ปริมาตร/พื้นที่, การตรวจจับข้อบกพร่อง, การสร้างรายงานอัตโนมัติ รองรับการวิเคราะห์แบบขนานสำหรับอุปกรณ์หลายเครื่อง, การสแกนและการประมวลผลแบบขนาน เพิ่มประสิทธิภาพเป็นสองเท่า

โลหะ, กราไฟต์, เวเฟอร์, แผงวงจรพิมพ์ (PCB) ที่ทำจากแก้ว, แผ่นทองแดง, โครงสร้างที่ผ่านการกัด, ขั้วแบตเตอรี่, ชิ้นส่วนที่ผ่านการอบผิวด้วยเม็ดทราย, ผิวแตก, วัสดุโปร่งใส, วัสดุที่มีรูพรุน, และวัสดุอ่อน สามารถนำมาทดสอบได้ ยินดีต้อนรับสำหรับการนัดหมายเพื่อความต้องการในการทดสอบเฉพาะ และการทดสอบตัวอย่างเพื่อดูผลลัพธ์

กล้องจุลทรรศน์แบบเดิมสามารถใช้เพียงสำหรับการสังเกตเท่านั้น; เครื่องวัดความขรุขระอาจทำให้ตัวอย่างเสียหาย; KC-X3000 เป็นระบบวัดแบบครบวงจรสำหรับการวัดรูปร่าง 3 มิติ, ขนาด, ความขรุขระ, และความเรียบแบบไม่สัมผัส ด้วยความแม่นยำระดับนาโนเมตร และไม่ทำให้ตัวอย่างเสียหาย

KC-X3000 คือกล้องจุลทรรศน์วัดความแม่นยำแบบสามในหนึ่ง ที่พัฒนาโดย Kathmatic ซึ่งรวมการสแกนรูปร่าง, การสังเกตด้วยระยะการมองเห็นที่ลึกเป็นพิเศษ, และการวัดแบบบูรณาการ ใช้เทคโนโลยีคอนโฟคัลแบบสเปกตรัมเพื่อทำการวัดรูปร่าง 3 มิติที่มีความแม่นยำสูงแบบไม่สัมผัส

อุปกรณ์นี้รวมสามฟังก์ชันหลัก: การสแกนรูปร่าง, การสังเกตด้วยระยะการมองเห็นที่ลึกเป็นพิเศษ, และการวัดแบบบูรณาการ อุปกรณ์เดียวสามารถแทนที่เครื่องวัดความขรุขระ 3 มิติแบบเดิม, กล้องจุลทรรศน์ที่มีระยะการมองเห็นที่ลึกเป็นพิเศษ, และเครื่องมือวัดรูปร่าง ทำให้สามารถทำการสังเกต, สแกน, และวัดแบบบูรณาการ