โปรไฟล์อิมเมจจิ้งออปติคัล ไมโครสโคปวัดขนาดสามมิติสำหรับการวัดโครงสร้างไมโครเซมิคอนดักเตอร์

ราคาแตกต่างกันไปขึ้นอยู่กับรุ่นและรูปแบบต่างๆ กรุณาแจ้งข้อมูลติดต่อของคุณ และเราจะประสานงานให้วิศวกรผู้เชี่ยวชาญติดต่อกลับไปเพื่อเสนอราคาตามความต้องการของคุณ

ใช่ ซอฟต์แวร์สำหรับอุปกรณ์นี้ได้รับการพัฒนาภายในบริษัท และมาพร้อมกับอุปกรณ์ ทำให้สามารถใช้งานได้ตลอดอายุการใช้งาน สามารถปรับแต่งและแก้ไขให้ตรงตามความต้องการของคุณได้หรือไม่? ขึ้นอยู่กับสถานการณ์เฉพาะ กรุณาแจ้งความต้องการของคุณอย่างละเอียด และเราจะประเมินว่าเราสามารถตอบสนองความต้องการเหล่านั้นได้หรือไม่

อุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์, อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ 3C, แบตเตอรี่ลิเธียม, พลังงานแสงอาทิตย์, แม่พิมพ์ความแม่นยำ, ยานยนต์, การแพทย์, การวิจัยทางวิทยาศาสตร์ และมหาวิทยาลัย ใช้ในการวัดบรรจุภัณฑ์ชิป, ข้อบกพร่องของลูกบัดกรี, ชิ้นส่วนโทรศัพท์มือถือ, ขั้วแบตเตอรี่, รอยขีดข่วนบนแม่พิมพ์, อุปกรณ์ทางการแพทย์ เป็นต้น หากคุณมีความต้องการในการวัดที่เฉพาะเจาะจง คุณสามารถติดต่อฝ่ายบริการลูกค้าออนไลน์ของเราเพื่อเชื่อมต่อกับวิศวกรผู้เชี่ยวชาญ

ชุด KM: ระบบวัดภาพ 3 มิติอัตโนมัติ (2 มิติ + 3 มิติ + ความลึกสูงพิเศษ + Confocal + ความหนาของฟิล์ม) มีคุณสมบัติในการวัดแบบกลุ่มอย่างรวดเร็วและระบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบ ชุด KC: กล้องจุลทรรศน์ความแม่นยำแบบ 3-in-1 สามารถวัดพื้นผิว/ความขรุขระ/ความหนาของฟิล์มในระดับนาโนเมตร นิยมใช้ในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์และแม่พิมพ์ ชุด KS: กล้องจุลทรรศน์ดิจิทัล 3 มิติที่มีความลึกสูง มีคุณสมบัติของความลึกที่มาก, การต่อภาพความละเอียดสูง และการสังเกตในระดับจุลภาค นิยมใช้ในการวิจัยทางวิทยาศาสตร์และการควบคุมคุณภาพ

มาตรฐานของผลิตภัณฑ์สามารถปรับแต่งได้ กรุณาแจ้งความต้องการของคุณอย่างละเอียด และเราจะประเมินว่าเราสามารถตอบสนองความต้องการเหล่านั้นได้หรือไม่